SJ 50923.2-1995 G2-01B-M1型和G2-01B-Z1型半导体光敏器件金属外壳详细规范
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ID： |
DFD314893F2F42508B1B451686593989 |
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文件大小(MB)： |
0.6 |
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页数： |
10 |
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日期： |
2024-7-27 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50923/2-95,G2-01B-M1 型和,G2-01B-ZI型半导体,光敏器件金属外壳,详细.规范,Detail specification for type G2 - 01B — M1>G2 - 01B — Z1,metal case for semiconductor photosensitive devices,1996.06丒14发布1996-10.01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,G2-01B-M!型和G2-01B-ZI型半导体,光敏器件金属外壳详细规范,SJ 50923/2-95,Detail specification for type G2 - 01B — MlXG2 - 01B — Z1,metal case for semiconductor photosensitive devices,范围,1.I 主题内容,本规范规定了 G2-01B-MUG2-01B-Z!型半导体光敏器件金属外壳（以下简称外,壳）的详细要求,外形代号按附录A光电子器件金属封装外壳命名方法（参考件）确定的,1.2 适用范围,本规范适用于G2-O1B-M1,G2-O1B-Z1型及同等结构的探测发光和光敏器件金属,外壳的研制、生产和采购,2引用文件,GBn 101—81,GJB 128—86,GJB 923—90,铁银钻玻封合金4J29技术条件,半导体分立器件试验方法,半导体分立器件管壳总规范,SJ/T 10587.1—93 DM—305型电子玻璃技术数据,SJ/T 10587.2—93 DM—308型电子玻璃技术数据,3要求,■,3.1 详细要求,各项要求应符合本规范和GJB 923的规定,3.2 设计、结构和材料要求,3.2 . 1设计、结构应符合GJB 923的规定,3.2.2材料要求,3.2.2.1 外壳选用的金属材料应符合GBn 101的要求,3.2.2.2 绝缘子玻璃应符合SJ/T 10587.1和SJ/T 10587.2的要求,中华人民共和国电子工业部!996-06-14发布1996-10-01 实施,—1 —,SJ 50923/2-95,3.3 尺寸,外壳的结构尺寸应符合图1.图2的规定,其余,图I G2—01B—M! 尺寸,2,SJ 50923/2-95,图 2 G2—01B一Z! 尺寸,3.4 性能,3.4.I 镀层厚度,管座、管帽金属表面全部镀金或镀专臬,其厚度分别为:,金层厚度:1.27 ~ 3.0/utm；,银层厚度:1.3~8.9卩0,3.4.2 绝缘电阻,管座极间绝缘电阻分为ニ级:,A级不小于lX10g；B级不小于!X10nOo,3.4.3 密封,封帽前进行核质谱检漏,底座和管帽的漏气速率不大于lXiOTpa.cn?,3.5 外观质量,3.5.1 金属表面的角或边上,不允许有明显的缺边、缺角,3,SJ 50923/2-95,3.5.2 金属表面不允许有明显的裂纹,3.5.3 有效区不允许有明显的凹坑、凸起、起皮及机械划痕,3.5.4 引线压焊端面应平整、光洁,3.5.5 任一引线根部不允许有径向腐蚀而造成的细颈,3.5.6 透镜光窗应透明无明显杂质、裂痕,透镜呈无色或相应的颜色,透镜表面应光滑无凹,坑,透镜光轴与管帽轴线无明显偏离。透镜内部不允许有正常视カ下可见的明显气泡,3.5.7 玻璃绝缘材料表面应光洁、致密,不允许有明显的孔洞、麻坑,封接玻璃不允许凸出底,座的上底面,但允许向底平面内凹0.2mm,非玻璃封接面不允许有残留玻璃,3.5.8 金属层应呈镀层本色,且致密、均匀、清洁,不允许有明显发花、锈蚀,3.6 标志,标志应按照GJB 923中3.6条规定并作以下补充:,质量认证合格标志“/艮”,4质量保证规定,4.!抽样和检验,抽样和检验要求及检验批的构成应按照本规范和GJB 923的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验应按GJB 923的规定进行,检验项目和要求应符合4.3条和4.4条中A、B、C组,检验的规定,4.3 筛选,筛选应按表1规定进行,表1筛 选,筛选项目引用标准条件和要求抽样要求,1、外观检验い■ 符合本规范3.5条规定。100%,2、绝缘电阻测试GJB 923 附录 D,L,D3,试验电压100V,符合本规范3.4.2条规定,3、密封い ' GJB 923 附录 D,D5,符合本规范3.4.3条规定,注:1）也适用于管巾0,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应按A、B和C组要求进行检验,并按本规范规定进行固定抽样或しTPD,值抽样,4.4 . 1 A组检验,A组检验应包括表2中规定的检验和试验,4,SJ 50923/2—95,全部检验是非破坏性的,检验或试验分组引用标准,表2 A组检验,检验要求,样本大小/接收,数或しTPD,A1分组,外观GJB 12,2071,在正常照明和正常视,力条件下进行外观目,检,有争议时用K）倍,的放大镜检验,按本规范3.5条规定,A2a分组,尺寸,15,A2b分组,镀层厚度,A3分组,一绝缘电阻,A5分组,密封,GJB 128,2066,GJB 923,D2,GJB923,D3,GJB 923,D5,用相应精度的量具或,专用量具检验,在管座外表面和下引,线中部各测一点在管,帽的外表面任测两点,试验电压100V,按规定,符合本规范3.3条规定〇,符合本规范3.4」条规定〇,符合本规范3.4.2条规定Q,符合本规范3.4.3条规定,5(0),条件,5,5,5,注:管帽只进行Al、A2a、A2b和A5分组检验0,4……
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